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光学涂层技术原理的中空镀膜在线测厚仪

2018-11-09 17:02 来源:林上科技   
核心摘要:材料的透过率(光密度)和材料的镀层厚度成一定的比例关系。这样通过监控材料的光学透过率(光密度)来达到监控材料的均匀性,镀层厚度的目的。林上LS152薄膜在线测厚仪​就是利用光学透过率的原理来实现非接触式的在线测厚。

对于透光的材料,材料一定的情况下,透过率和测量的厚度成一一对应关系,所有通过测量材料的光学透过率(光密度)来达到测量材料厚度的目的,在卷绕式镀膜行业,如镀铝膜,各种包装膜,通过在线监测薄膜的透过率来在线监测生产的品质,已经是一种非常成熟的方案。如深圳市林上科技的LS152薄膜在线测厚仪就是利用光学透过率的原理来实现非接触式的在线测厚,该仪器支持RS485通讯接口和MODBUS通讯协议,可以与镀膜机上的PLC进行通讯实现闭环控制。

薄膜在线测厚仪

林上LS152薄膜在线测厚仪是由探测系统、人机交互设备、电脑实时监控系统这三部分组成的。

探测系统:主要包括测试点(光源探头+接收探头),控制器和铝支架;

人机界面:7寸LCD人机交互界面,显示各个测试点的透过率和光密度数据;

电脑实时监控系统(选配):数据记录,分析,报表等功能。

LS125薄膜在线测厚仪目前我们做过最长的是青州宝丰的40个测试点的薄膜在线测厚仪。

如有疑问欢迎到林上科技官网咨询在线客服。

林上官网:http://www.lstek.cn/

仪器链接:http://www.lstek.cn/product/LS152.html


(责任编辑:林上科技)
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